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高嶺石成分檢測(cè)_高嶺土物相檢測(cè)-高嶺石掃描電鏡測(cè)試。華謹(jǐn)?shù)谌降V石檢測(cè)中心，專門承接各類礦石礦物檢測(cè)，檢測(cè)周期短，費(fèi)用優(yōu)惠，歡迎來電咨詢。

高嶺石檢測(cè)什么單位可以辦理？檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？費(fèi)用是多少？華謹(jǐn)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室可根據(jù)GB/T 14563-2020 高嶺土及其試驗(yàn)方法等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定試驗(yàn)方案。對(duì)高嶺石檢測(cè)的篩余量、分散沉降物、PH、粘度等項(xiàng)目進(jìn)行檢測(cè)分析。并出具嚴(yán)謹(jǐn)公正的CMA，CNAS資質(zhì)檢測(cè)報(bào)告。

高嶺石(kaolinite) 亦稱“高嶺土”、“瓷土”。一種黏土礦物。因首先在江西景德鎮(zhèn)附近的高嶺村發(fā)現(xiàn)而得名。由長(zhǎng)石、普通輝石等鋁硅酸鹽類礦物在風(fēng)化過程中形成。呈土狀或塊狀，硬度小，濕潤(rùn)時(shí)具有可塑性、黏著性和體積膨脹性，特別是微晶高嶺石(亦稱“蒙脫石”、“膠嶺石”)膨脹性更大(可達(dá)幾倍到十幾倍)。由微晶高嶺石和拜來石為主要成分的稱“斑脫土”。

高嶺石檢測(cè)項(xiàng)目：

 成分分析，白度、粒徑、篩余量、分散沉降物、PH、粘度、濃度、三氧化二鋁含量、三氧化二鐵檢測(cè)、二氧化硅含量、燒失量、掃描電鏡、差熱分析、耐火度、放射性、X衍射分析，密度等。

高嶺石檢測(cè)適用范圍：

 膠嶺石、微晶高嶺石、蒙脫土、精細(xì)高嶺土、日用陶瓷用高嶺土、混凝土用偏高嶺土、高嶺土原礦、高嶺石原礦等。

高嶺石相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

 GB/T 14563-2020 高嶺土及其試驗(yàn)方法

 GB/T 14565-1993 高嶺土化學(xué)分析方法

 GB/T 14564-1993 高嶺土物理性能試驗(yàn)方法

 GB 31628-2014 食品安全國家標(biāo)準(zhǔn) 食品添加劑 高嶺土

 GB/T 14563-1993 高嶺土

 JC/T 2370-2016 精細(xì)高嶺土

 QB/T 1635-2017 日用陶瓷用高嶺土

 JC/T 2573-2020 高嶺土中游離石英含量的測(cè)定方法

 DB53/T 843-2017 混凝土用偏高嶺土

 KS E 3805-1977 高嶺石

 STAS 9163/21-1974 硅鋁礦產(chǎn)品.高嶺石含量的測(cè)定

高嶺石掃描電鏡測(cè)試：

SEM 電鏡 / EDS 能譜分析介紹：

掃描電子顯微鏡(SEM)是用細(xì)聚焦的高能電子束轟擊試樣表面，通過電子與試樣相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子信息對(duì)試樣表面或斷口進(jìn)行微區(qū)形貌及結(jié)構(gòu)的觀察 ?，F(xiàn)在的SEM一般都與EDS組合，利用EDS進(jìn)行元素成分定性、定量分析；可應(yīng)用于材料高分辨成像、電子產(chǎn)品如PCB板/FPC、半導(dǎo)體，光電材料、通訊行業(yè)材料形貌/腐蝕/微污染分析，微區(qū)元素打點(diǎn)分析/特定元素沿深度方向的線掃描，元素的面分布。

掃描電子顯微鏡的原理是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。 當(dāng)一束高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、X光信號(hào)、背散射電子、透射電子， 以及在可見、 紫外、 紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。根據(jù)信號(hào)強(qiáng)度組成形貌照片，能高倍率觀察表面外觀形貌。 原則上講，利用電子和物質(zhì)的相互作用，可以獲取被測(cè)樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息。

能譜儀的工作原理：探頭接受特征X射線信號(hào)→把特征X射線光信號(hào)轉(zhuǎn)變成具有不同高度的電脈沖信號(hào)→放大器放大信號(hào)→多道脈沖分析器把代表不同能量(波長(zhǎng))X 射線的脈沖信號(hào)按高度編入 不同頻道→在熒光屏上顯示譜線→利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行定性和定量計(jì)算。能譜儀通常作為掃描電子顯微鏡的附屬配件，搭配掃描電子顯微鏡使用。

通過掃描電子顯微鏡和搭配使用的能譜儀，可以用來觀測(cè)芯片內(nèi)部層次和測(cè)量各層厚度、觀測(cè)并拍攝局部異常照片和測(cè)量異常尺寸、測(cè)量芯片關(guān)鍵尺寸線寬和孔徑、定性和定量分析異常污 染物的化學(xué)元素組成。

SEM/EDS分析手段：

主要用于無機(jī)材料微結(jié)構(gòu)與微區(qū)組成的分析和研究，儀器的功能包括：

（1）電子衍射：選區(qū)衍射、微束衍射、會(huì)聚束衍射；

（2）成像：明場(chǎng)像（BF）、暗場(chǎng)像（DF）、衍射像、高分辨像(HREM)、掃描透射像，環(huán)角暗場(chǎng)像（HAADF）；

（3）微區(qū)成分：EDS能譜的點(diǎn)、線和面分析；

SEM/EDS應(yīng)用范圍：

（1）材料范圍：除磁性材料之外的任何無機(jī)材料，包括粉體、薄膜和塊材；不適用于有機(jī)和生物材料。

（2）表征范圍：微觀形貌、顆粒尺寸、微區(qū)組成、元素分布、元素價(jià)態(tài)和化學(xué)鍵、晶體結(jié)構(gòu)、相組成、結(jié)構(gòu)缺陷、晶界結(jié)構(gòu)和組成等。

以上就是關(guān)于高嶺石檢測(cè)報(bào)告，高嶺石檢測(cè)項(xiàng)目，高嶺石檢測(cè)方法，高嶺石檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)內(nèi)容介紹，希望對(duì)大家能夠有所幫助，如果您想要了解更多資訊請(qǐng)聯(lián)系華謹(jǐn)檢測(cè)工作人員。

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